Strukturentwicklung beim Hochtemperaturglühen von 3,0% Si-gerichteten Körnern im Niedrigtemperaturbeleg

,  

,  

,  

,  

,  

摘要

Der Prozess der Mikrostrukturentwicklung beim Hochtemperaturglühen (650~1050℃) von körnig orientiertem Niedrigtemperaturbelegtem 3,0%-Si-Stahl (0,04%C, 3,16%Si, 0,50%Cu) mit Cu2S als Hauptinhibitor wurde unter Verwendung der Orientierungsverteilungsfunktion und der metallografischen Analyse untersucht. Die Ergebnisse zeigen, dass die erste Rekristallisationstemperatur dieses orientierten Siliziumstahls bei 650~700℃ liegt, die zweite Rekristallisationstemperatur bei 1000~1050℃. Nach der ersten Rekristallisation nimmt die Haupttexturintensität in der Reihenfolge {111}〈110〉, {112}〈110〉, {111}〈112〉 ab. Die Korngröße und Texturintensität der erste Rekristallisationsstruktur ändern sich zwischen 700~900℃ kaum, bei 900~1000℃ beschleunigt sich das Kornwachstum, die Komponenten {111}〈110〉, {112}〈110〉 verstärken sich, während die Intensität der Komponente {111}〈112〉 im Wesentlichen konstant bleibt.

关键词

Niedrigtemperaturbelegheizung,&Körnerorientierung, Siliziumstahl; Glühen, Struktur

阅读全文