Die Ursachen für das Säureglühen-Bruchband im hochfesten P-haltigen IF-Stahl HC250IF wurden mittels chemischer Zusammensetzung, Rasterelektronenmikroskopie und Auger-Elektronenspektroskopie (AES) analysiert. Es wurde festgestellt, dass der niedrige Bor-Gehalt die Phosphorsegregation an Korngrenzen nicht unterdrücken konnte, und die Bildung von FeTiP- oder Fe₃P-Verbindungen zur Versprödung der Korngrenzen führte, was die Hauptursache für das Säureglühen-Bruchband ist. Durch die Optimierung des Borzugabeverfahrens, die Erhöhung des Bor-Gehalts im Stahl von 0,0002 %–0,0007 % auf 0,0008 %–0,0012 %, die strenge Kontrolle des Stickstoffgehalts ≤30×10^-6 sowie die Gewährleistung eines Vakuumreinigungszyklus von ≥8 Minuten nach der Zugabe von Borreisen RH zur Sicherstellung der Homogenität kann die Säureglühen-Bruchbandbildung im hochfesten P-haltigen IF-Stahl effektiv vermieden werden.

hochfester P-haltiger IF-Stahl; Bruchband; Phosphorsegregation; Bor