인출식 전기로 전기용융 재용해 공정은 높은 생산 효율과 높은 주괴 제품 수율이라는 뛰어난 장점을 가지고 있다. 그러나 인출 과정에서는 결정기와 주괴 사이에 상대적인 이동이 존재하기 때문에 강한 전단력이 발생한다. 따라서 슬래그 껍질 강도가 부족하여 강재 누출 및 슬래그 누출 사고가 자주 발생한다. 실험은 기존 전기용융 재용해시 사용되는 슬래그 시스템을 기반으로 하여 서로 다른 함량의 SiO2를 첨가하고, 슬래그의 점도와 용융점을 측정하였다. 다양한 SiO2 함량이 슬래그 석출상과 고온 구조에 미치는 영향을 분석했으며, 1% w[SiO2] 함유 슬래그에 대해 서로 다른 전단력 하에서의 석출상과 고온 구조를 측정하였다. 연구 결과, 슬래그 용융점은 w[SiO2]와 비례 관계에 있으며, 점도 및 전환 온도는 반비례 관계에 있었다. w[SiO2]이 증가함에 따라 슬래그 점도 활성화 에너지는 26.4 kJ/mol에서 148.56 kJ/mol로 증가하였으며, 3% w[SiO2]에서 최대값인 153.8 kJ/mol에 도달하였다; 고온에서의 석출상은 주로 CaF2 및 Mg2AlO4로 구성되며, w[SiO2]가 5%일 때 실리콘 함유상들이 석출되기 시작하였다. 슬래그 그물망 구조 안정성의 향상은[Si-O]테트라헤드럴 구조 덕분이며,[Si-O]구조는 Q0 및 Q3에서 점차 Q0、Q1、Q2로 전환되었다; 슬래그에 일정한 전단력을 가하면 실리콘 함유상의 석출을 촉진하지만 전단력이 증가할수록 실리콘상이 소실되며, 석출상의 종류는 변하지 않음; 동시에 전단력 증가가 슬래그 내[Si-O]구조의 Q3 전환에 긍정적인 영향을 주어 Q0와 Q1가 더 복잡한 구조인 Q2와 Q3로 전환되어 슬래그 중합도가 안정적으로 유지되고, 안정적인 야금 특성을 갖는다.